Pomiary pól temperatury i emisyjności w układach i elementach elektronicznych; weryfikacja projektów i modeli termicznych; wykrywanie wad wykonania; wieloaspektowa analiza termiczna w stanach stacjonarnych i niestacjonarnych (identyfikacja i ocena głównych ścieżek przepływu ciepła, gradientów temperatury itp.)
- Naukowa kamera termowizyjna (IR camera FLIR SC7600MB).
- Modele ciała doskonale czarnego.
Punktowy pomiar szybko zmiennych pól temperatury. Generacja elektrycznych wymuszeń impulsowych w strukturach elektronicznych. Identyfikacja własności cieplnych materiałów w strukturach elektronicznych.
- Ultraszybki detektor IR (IR detector Vigo System) – czas odpowiedzi 20ns
- Generator impulsów elektrycznych z modułem akwizycji danych PXI-NI.
Pomiary i charakteryzacja światłowodów jedno- i wielomodowych, źródeł światła i odbiorników, czujników optycznych i optoelektronicznych. Pomiary parametrów światła np.: natężenie, widmo, polaryzacja, dokładne pomiary mocy optycznej.Zestaw pomiarowy do optoelektroniki (Optoelectronic set Agielent Technology) jest wykorzystywany również do realizacji badań strumienia światła w przestrzeni otwartej z użyciem aktywnego stanowiska antywibracyjnego.
- Analizator widma optycznego (Yokogawa AQ6370B) – wejście FreeSpace.
- Oscyloskop cyfrowy (DSO90604A) – zakres DC–6GHz.
- Scrambler synchroniczny (N7785B).
- Analizator polaryzacji (N7781B) – pomiary SOP, DOP, parametry Stokesa.
- Kontroler polaryzacji (8169A), konwerter optyczno-elektryczny (81495A); zestaw modularny (8166B); lasery przestrajalne (81989A,81949A); przełącznik optyczny (81591B); tłumik optyczny (81570A).
Testowanie układów elektronicznych w różnych warunkach środowiskowych, badania starzeniowe.
- Komora klimatyczna (Climatic chamber Feutron KPK 400V).